| 상품명 | KCRX, Non-contact spectrophotometer/on-line color sensor |
|---|---|
| 공급원 | 한국코프로텍(주) (OEM) |
| 판매가 | 가격문의 |
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| KCRX, Non-contact spectrophotometer/on-line color sensor |
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KCRX series, Non-contact spectrophotometer/on-line color sensor
비접촉 분광 광도계 / 온라인 (생산현장 적용 가능)
비접촉식 분광 광도계는 샘플의 오염이나 손상 없이 비접촉식으로 물체 표면의 색상을 빠르고 정확하게 측정할 수 있는 고정밀 색상 측정기입니다. 또한 조립 라인과 기계 암에 설치하여 제품 색상을 실시간으로 모니터링하고 데이터를 반환하며 제품 품질에 대한 시기적절한 피드백을 제공할 수도 있습니다.
- 45/0 structure (45° annular illumination /0° measurement)
- 내장된 교정기능으로 사람의 개입 없이 장기적으로 안정적인 작동이 보장됩니다. 젖은 필름의 비접촉 색상 감지 및 온라인 색상 품질 관리에 사용할 수 있습니다.
- Repeatability：dE*ab≤0.02
- Inter-instrument agreement：dE*ab≤0.25
- Size of caliber：21mm
- Non-contact distance：5mm
- 색상 측정, 빠른 속도, 높은 정밀도, 우수한 반복성을 위한 이중 광선 경로 분광 광도법 방법
- 매개변수에 표시된 대로 색상 반사율, CIE Lab, LCh, Luv, XYZ, Yxy, Hunter - Lab 등 여러 지표를 측정할 수 있습니다.
- 방수 및 방진, 보호등급IP66
- RS232, RS485, USB, 네트워크 포트, 아날로그 신호 다중 통신 모드 지원
- LED 광원을 사용하여 수명이 길어집니다.
- 장비의 높은 안정성을 보장하기 위해 내부 교정이 지원됩니다.
- 강력한 PC 데이터 관리 소프트웨어가 기본으로 제공됩니다.
Model | KCRX-60 | KCRX-62 | KCRX-66 |
Geometry* | 45/0 | ||
Repeatability** | dE*ab≤0.1 | dE*ab≤0.05 | dE*ab≤0.02 |
Inter-instrument agreement*** | / | / | dE*ab≤0.25 |
Display accuracy | 0.01 | ||
Measuring/Lighting calibers | Φ8mm/Φ21mm | ||
Measurement index | CIE-Lab,XYZ | Light source condition, CIE-Lab,CIE-LCh,HunterLab,CIE-Luv,XYZ,Yxy, RGB,chromatic aberration(ΔE*ab,ΔE*cmc,ΔE*94,ΔE*00),whiteness(ASTM E313-00,ASTM E313-73,CIE，ISO2470/R457,AATCC, Hunter,Taube Berger Stensby),yellowness(ASTM D1925, ASTM E313-00,ASTM E313-73),blackeness(My,dM), color fastness,color fastness,Tint(ASTM E313-00), color densityCMYK(A,T,E,M) | |
Light source condition | A,C,D65 | A,B,C,D50,D55,D65,D75,F1,F2,F3,F4,F5,F6,F7,F8, F9,F10,F11,F12,CWF,U30,U35,DLF,NBF,TL83,TL84, ID50,ID65,LED-B1,LED-B2,LED-B3,LED-B4,LED-B5, LED-BH1,LED-RGB1,LED-V1, LED-V2 | |
Lighting source | Full band balancedLED light source | ||
Field angle | 2°，10° | ||
Meet a criterion | CIE No.15,GB/T 3978,GB 2893,GB/T 18833,ISO7724-1,ASTM E1164,DIN5033 Teil7 | ||
Spectroscopic method | Nanobeam splitting device | Raster | |
SenSor | Silicon optical array device | Dual-row high-precisionCMOS array sensor | |
Wavelength interval | 10nm | ||
Wavelength coverage | 400-700nm | ||
Reflectance measurement range | 0-200% | ||
Reflectance resolution | 0.01% | ||
Measurement and observation mode | Visual | ||
Calibration | Intelligent automatic calibration | ||
Accuracy guarantee | Ensure the first level of measurement | ||
Measuring time | Single measurement 110ms | Single measurement50ms | |
Measuring interval | 1s | ||
Port | USB，485，232，External trigger, analog output, Ethernet | ||
Screen | No | Full color screen，3.5 inches | |
Light source lifetime | 1 million times in 10 years | ||
Language | / | Simplified Chinese, English | |
Non-contact distance | 5mm | ||
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